存储器芯片在电子系统中负责数据存储，是半导体存储产品的核心，其存储量与读取速度直接影响电子设备性能。

芯片测试几乎都离不开温度冲击试验，IGBT需要用温度冲击试验机做一些环境可靠性试验。

芳菲四月天，春光无限好，正是活动时，在这个春意盎然的季节，放松心情、愉悦身心。

电子元器件测试筛选服务提高产品使用可靠性，特别是针对进口元器件，通过“二次筛选”保证产品质量可控，提高装备整体可靠性。

IGBT 损耗特性和温度息息相关,因此标定出常 温 25 ℃ 和高温 125 ℃ 时的损耗值作为基础,并在 25 ℃和 125 ℃参数基础上,通过线性化处理,获得 全温度范围的损耗数据。

高低温条件与驻留时间目前新的规范会要求是依据测试品表面温度，而不是试验设备测试区的空气温度

半导体业的一个不可逆转的趋势是芯片复杂度持续提高，对芯片测试提出了更高的要求。

ThermoTST热流仪搭配闩锁测试系统进行静电测试增强的数据集功能提供了灵活性，以满足当今系统级芯片设计的测试需求。