芯片测试为什么会影响芯片价格？
半导体产品的测试在产品上市时间、 测试成本、良率提升这三个方面对盈利会产生影响。其中存在着显性成本和隐性成本。
2022-12-31 09:30:00
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集成电路半导体零部件的分类有哪些？
半导体零部件是指在材料、结构、工艺、品质和精度、可靠性及稳定性等性能方面达到了半导体设备及技术要求的零部件2022-12-30 16:34:53![]()
高低温冲击设备在芯片失效分析领域的运用
高低温冲击气流仪如今十分活跃在电子元器件/模块冷热测试领域2022-12-30 16:33:14![]()
高低温冲击气流仪用于IGBT失效分析测试
高低温冲击气流仪用于IGBT、传感器、小型模块组件，从而对组件进行特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。2022-12-30 11:05:42![]()
芯片失效分析原理及步骤
失效机制是导致零件、元器件和材料失效的物理或化学过程2022-12-29 09:30:00![]()
高低温冲击气流仪用于SOC特性分析定制风罩
我们公司的隔热风罩尺寸从 3寸到 7 寸常规产品可适配于客户各类产品尺寸，并且可以根据客户现场产品尺寸进行隔热风罩定制。2022-12-29 09:11:48![]()
集成电路芯片测试的原理是什么？
随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路2022-12-28 17:09:48![]()
什么是芯片可测性设计？
测试的目标是把功能正确的芯片和有瑕疵的芯片分离出来，保证客户使用的是功能完整的芯片2022-12-28 17:03:50
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