数字逻辑测试（Digital Logic Testing）主要用于检测芯片的数字电路部分，确保其逻辑功能、时序特性和结构完整性。

环境应力筛选（Environment Stress Screen，ESS）通过向电子或机电产品施加在设计范围之内的合理的环境应力（如温循、随机振动等）或电应力，将其内部的潜在缺陷加速暴露出来的过程。

Burn-in是一种专门设计的测试向量，用于在芯片老化测试过程中激活芯片内部的各个模块，确保芯片在高温、高电压等加速应力条件下能够正常工作，从而提前发现潜在的缺陷和故障，提高芯片的可靠性和质量。

在微电子器件的可靠性验证中，温度循环（Temperature Cycling, TC）与热冲击（Thermal Shock, TS）是两项至关重要的环境应力测试。

三温测试是指对芯片在三种不同温度条件下（常温、低温、高温）进行的性能测试，旨在全面评估芯片在不同环境温度下的可靠性和稳定性。

PCW系统（Process Cooling Water System）即工艺冷却水系统，亦称制程冷却水系统，是工业生产中为设备和机械提供冷却的关键水循环系统‌。

在电子产品可靠性测试领域，HAST和PCT是两种常用的高温高湿加速老化测试方法。

THB(双85)、BHAST、UHAST到底有哪些区别？HAST与THB可以进行选择性验证；如果做了THB或者HAST，则UHAST可以不做。