IC功能测试与参数测试的常见问题有哪些？
在划片之前必须经过的CP芯片测试，一方面验证IC各项参数及功能是否达到设计要求，另一方面把参数或功能失效的IC从中标示出来
2024-08-01 16:02:14
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基于ATE的IC测试精确度及稳定性问题
随着IC产业的飞速发展，其中测试的精确度及稳定性是两大难题，尤其在量产ATE测试时表现更为严重。2024-07-24 09:57:14![]()
IC测试的基本原理及分类
IC测试主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。2024-07-15 14:58:47![]()
AECQ100车规认证流程中的高低温测试
在AECQ100车规认证流程中，很多的实验前后都需要进行常温或者高低温的测试。2024-07-08 15:02:27![]()
加速寿命试验常用的模型有哪些？应注意哪些问题？
加速试验模型是对产品在正常应力水平下以及一个或多个加速应力水平下的关键因素进行试验而导出的。2024-07-02 09:41:46![]()
HAST高加速老化试验箱操作步骤
HAST测试被广泛应用于各种芯片产品的研发和生产过程中，包括微处理器、存储芯片、传感器芯片等。2024-06-25 11:04:30![]()
什么是加速试验？有哪些特点和分类？
加速试验是指在保证不改变产品失效机理的前提下，通过强化试验条件，使受试产品加速失效，来评估产品在正常条件下的可靠性或寿命指标。2024-06-19 10:16:52![]()
HAST老化试验箱的作用及特点
HAST加速老化技术是一种在芯片行业常用的测试方法，用于模拟芯片在实际使用中可能遇到的极端环境和高温高湿的工作环境，以检验芯片的可靠性和寿命。2024-06-13 10:26:53
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