在车规级芯片可靠性测试方面, ThermoTST系列高低温测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 温度变化速率快, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件. 

       ThermoTST系列车规级芯片高低温测试案例: 某知名半导体芯片设计公司自主设计及研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过推荐, 客户采购ThermoTST TS780高低温热流仪, 测试温度范围 -80 至 +225°C, 输出气流量 4 至 24 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!

       ThermoTST TS780车规级芯片高低温测试方法：

       1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 TS780 的隔热风罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).

       2. 设置需要测试的温度范围.

       3. 启动 ThermoTST TS780,将干燥洁净的压缩空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过隔热风罩进入测试腔. 隔热风罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.

       4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ThermoTST TS780 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测车规芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.