Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元，以测试IC器件。其中，Max TC广泛应用于芯片可靠性测试领域，包括但不限于材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试以及失效分析等可靠性试验。它特别适用于对芯片进行高温、低温或高低温环境下的性能测试，以确保芯片在各种恶劣条件下的稳定性和可靠性。

       Max tc测试时出现温度不稳定的情况，可能由多种因素导致，主要有一下原因:

1.设备自身问题

电源不稳定：电源电压波动可能导致设备内部温度控制不稳定。

传感器故障：温度传感器损坏或精度下降，无法准确反映测试头的实际温度。

控制系统问题：控制系统故障或参数设置不当，导致温度控制不稳定。

2.测试环境干扰

外部温度波动：测试环境温度的波动可能影响设备的温度稳定性。

空气流通不畅：测试设备周围的空气流通不畅，可能导致温度分布不均。

电磁干扰：电磁干扰可能影响设备的温度控制精度。

3.测试样品问题：

样品与测试头接触不良：样品与测试头之间的接触不良可能导致热量传递不畅，从而影响温度稳定性。

样品自身热效应：样品在测试过程中可能产生热量，导致测试头温度升高。

       经过我们工程师检查发现是温度传感器接触不良导致的，并且我们还检查到气缸冷头在运行时有漏气的现象发生，通过更换损坏的温度传感器，和校准传感器以提高精度，Max tc测试时出现温度不稳定的情况已经修复。

       我们的专业团队拥有数十年的行业经验，长期与国内知名企业紧密合作。我们提供全国范围内的Max TC接触式高低温冲击机设备故障的快速支持，并可在我们的工厂进行高标准的维修、保养及改造（重建）服务。

       我们的专业知识和经验意味着我们能专业的为大多数接触式高低温冲击机应用与维修提供全面的建议和支持。通过设计和改造的系统（根据现场环境定制或配置），我们可以提供一个完整的系统解决方案。