时钟芯片, 也叫时钟电路, 是可以产生像时钟一样准确运动的振荡电路。时钟芯片之于电子系统，就像心脏在人体中的地位，以产生稳定可靠的参考频率信号提供给SoC或CPU，MCU等进行运算或资料传输等用途。为各类SoC芯片提供稳定时钟信号，在5G通信、服务器、消费电子、电动汽车等领域具有广阔的应用前景。组成时钟电路的部件一般包括晶震控制芯片, 晶体振荡器和电容组成。时钟芯片计时精度误差源于晶体振荡电路的频率误差，而晶体振荡频率都会受到环境温度影响，比如时钟芯片在温度骤降情况下, 晶体的频率会有一个很大的变化，所以需要对不同温度下时钟芯片的计时误差进行准确测试。如果设计过程中不验证其不同温度下的各项性能，在极端温度范围内计时精度误差会很大，影响到时钟在使用中的精准度。

为分析时钟芯片的各项特性，高低温循环冲击机与其测试设备搭配，提供快速可靠的温度环境。时钟芯片所需温度范围 -40 至 90℃， 高低温循环冲击机ThermoTST TS560可快速模拟需要的温度测试环境，温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒，提供了很强的温度转换测试能力，且可单独对所需芯片进行针对性的测试，很大程度提升了测试效率。TS560是纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

高低温循环冲击机ThermoTST TS560测试步骤：
1. 启动ThermoTST TS560, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达设备内部进行升温或降温。
2. 根据测试要求, 设置 ThermoTST TS560为 Air 或 DUT 模式, 环境可靠性测试中, 时钟芯片通常要求的测试温度范围为正常大气压下, 工作温度 -40℃ 至 90℃。
3. 在测试中, 设置好需要的高温, 常温及低温温度后, 点击 Head 按键, 降低隔热风罩高度, 使隔热风罩下降并完全罩住测试区域, 此时开始进行相应温度段的测试。

4. ThermoTST TS560显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度, 而且自带过冲温度保护系统, 出厂设置温度 +225°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点, 当温度达到设置温度时, 测试将正常进行。